Die Webdemo zeigt ein Interferenzmuster, welches zum Beispiel im Mobilfunk durch Reflexionen an Gebäuden enstehen kann. Dabei wird deutlich, warum nur wenige Zentimeter entscheiden können, ob ein sehr guter Empfang vorhanden ist - oder gar keiner ("Funkloch").
Das Bild zeigt die Ursache für destruktive Interferenz: Zwei Sinus-Wellen überlagern sich an einem räumlichen Punkt, der uns interessiert. Durch den Gangunterschied
werden die beiden Sini mit 180° Phasenschub überlagert, und heben sich damit gerade auf. Die mittlere Signalleistung bei unterschiedlichen Empfangspositionen wird auf der nächsten Folie dargestellt. Dabei erkennt man Regionen, in denen es einen sehr guten Empfang gibt, und Regionen, die keinen Empfang haben.
Interferenz (konstruktiv oder destruktiv) ist für viele Studiengänge ein wichtiges Thema. Im Brückenbau wie auch in der Kernspinthomographie kann man diesen Effekt wiederfinden.
In der Elektrotechnik kann Interferenz in vielen Bereichen gezeigt werden: Im Bereich der Leistungselektronik durch eine Einkopplung einer Spule in die Schaltkreise; in der Halbleitertechnik, in der konstruktive Überlagerungen von Wellen in einem Halbleiter-Chip Resonanzen erzeugen, die zum Beispiel einen Laser treiben; in der Signalverarbeitung, welche versucht, solche Interferenzen herauszufiltern bzw. zu unterdrücken, und in vielen weiteren Bereichen.